НАНУ Наукові конференції, що були організовані за участтю Наукової Ради НАН України з аналітичної хімії та кафедрою аналітичної хімії КНУ КНУ

Державний комітет України з питань технічного регулювання та споживчої політики

(Держспоживстандарт України)

Всеукраїнський державний науково-виробничий центр стандартизації, метрології, сертифікації та захисту прав споживачів

(Укрметртестстандарт)

Всеросійський науково-дослідний інститут  метрології ім. Д.І. Менделєєва

Білоруський державний інститут метрології

Технічний комітет "Фізико-хімія" (ТК 1.8)

Євро-Азійського співробітництва державних метрологічних установ (КООМЕТ)

Технічний комітет зі стандартизації

 Держспоживстандарту України "Аналіз газів, рідких і твердих речовин" (ТК 122)

Наукова Рада Національної академії наук України з проблеми "Аналітична хімія"

Асоціація Eurachem-Ukraine


ІІІ Міжнародна науково-практична конференція

 Забезпечення єдності вимірювань фізико-хімічних та

оптико-фізичних величин

Київ

11 – 13 листопада 2008 р.


ОРГКОМІТЕТ

 

Голова

Мухаровський М.Я., Україна

Заступники голови

Жалдак М.С., Україна

Рожнов М.С., Україна

Учений секретар

Чичеріна Г.М.,Україна

Технічний секретаріат

Бритова М.В., Україна

Манська О.О., Україна

Члени оргкомітету

Близнюк М.М., Україна

Гаврилкін В.Г., Україна

Глєбов А.Б., Україна

Голодняк В.О., Україна

Дашковський О.А., Україна

Єсауленко А.М.,  Україна

Жагора М.А., Білорусь

Зайцев В.М., Україна

Захарія О.М., Україна

Івков А.Г., Україна

Кіалдунозянц С.А., Україна

Конопелько Л.О., Росія

Левбарг О.С., Україна

Лавренченко Г.К., Україна

Мельник Д.М., Україна

Мельничук С.Д., Україна

Моргунов Е.І., Україна

Нежиховський Г.Р.,  Росія

Писарєв Є.О., Україна

Погрібна Л.М., Україна

Проненко С.В., Україна

Суворов В.І., Росія

Урда М.М., Україна

Фаткудінова Ш.Р., Росія

Хайрова Н.В., Білорусь

Шептун В.Л., Україна

 

Адреса оргкомітету:

Укрметртестстандарт,  вул. Метрологічна, 4, м. Київ, Україна, 03680

E-mail: molar@ukrcsm.kiev.ua

Тел.:+38-044-526-52-98 

тел./факс: + 38-044-526-34-69


ТЕМАТИКА КОНФЕРЕНЦІЇ

 

Організаційний комітет запрошує Вас взяти участь у ІІІ Міжнародній науково-практичній конференції

"Забезпечення єдності вимірювань фізико-хімічних та оптико-фізичних величин", яка відбудеться 11 – 13 листопада 2008 р.

 

На конференції будуть розглянуті такі питання:

 – проблеми сучасної хімічної метрології: простежність, невизначеність, міжлабораторні порівняння результатів вимірювання;

 – нормативна база: загальні метрологічні вимоги до еталонів, засобів вимірювальної техніки, методик виконання вимірювань, методик повірки (калібрування) засобів вимірювальної техніки;

 – наукові дослідження зі створення сучасних методів  і засобів відтворення одиниць і передавання їх розмірів;

 – системи одиниць величин і шкал вимірювань, основні поняття, терміни і визначення у хімічній метрології;

 – системи передавання розмірів одиниць величин від державних еталонів робочим засобам вимірювальної техніки;

 – первинні, вторинні і робочі еталони;

 – стан і перспективи розвитку приладобудування;

 – робочі засоби вимірювальної техніки: розробка, дослідження, випробування, повірка;

 – особливості  проведення державних приймальних випробувань та метрологічної атестації засобів вимірювальної техніки в умовах ринкової економіки;

 – стандартні зразки у системі забезпечення єдності вимірювань властивостей і складу речовин і матеріалів;

 – стандартні довідкові дані про властивості речовин і матеріалів;

 – методики виконання вимірювань: проблеми розробки, удосконалення і застосування;

 – проблеми державного метрологічного контролю і нагляду;

 – акредитація метрологічних служб, повірочних, калібрувальних і вимірювальних лабораторій.


УМОВИ УЧАСТІ

Бажаючим взяти участь у конференції необхідно до 01 серпня 2008 р. надіслати на адресу Оргкомітету заповнений бланк заяви-анкети учасника.

Реєстраційний внесок за одного учасника :

 – 744,00 грн., у т.ч. ПДВ 20%  124,00 грн.;

 – 996,00 грн., у т.ч. ПДВ 20%  166,00 грн., (з проживанням у 2-місних сучасних комфор­табельних номерах (за 2 доби );

 – 1104,00 грн., у т.ч. ПДВ 20 % 184,00 грн. (з проживанням у 2-місних сучасних комфортабельних номерах (за 3 доби).

  У вартість реєстраційного внеску входять участь у роботі конференції, відвідування виставки, видання
збірника доповідей, обіди у ресторанному комплексі, кава під час перерв, дружня вечеря.

  Реєстраційний внесок необхідно переказати на Р/р.:  260053251101 в ВАТ  „Агрокомбанк"  м. Києва, МФО 322302,  ЄДРПОУ 32985757. 

Одержувач: ТОВ „Центр безперервної освіти „СПЕКТР ЗНАНЬ"

Призначення платежу: За участь у ІІІ Міжнародній науково-практичній конференції "Забезпечення єдності вимірювань фізико-хімічних та оптико-фізичних величин" (прохання вказати ПІБ учасника). Оплата за участь у конференції можлива готівкою під час реєстрації.

Для одержання податкової накладної та акту виконаних робіт при собі необхідно мати копію свідоцтва про реєстрацію платника податку.

Конференція буде проводитись  на базі Інституту післядипломної  освіти  Національного  університету

ім. Тараса Шевченка (вул. Васильківська, 36 )

Проїзд від залізничного  вокзалу  маршрутним таксі

№ 458 або від станції метро „Либідська" маршрутним таксі №№ 156, 38, 548 до зупинки  „Амурська площа".

Під час проведення конференції буде влаштовано тематичну виставку приладів .

   Реєстраційний внесок за участь у виставці 300,00 грн., у т.ч. ПДВ 20% - 50,00 грн.

Якщо Ви маєте намір взяти участь у виставці, просимо повідомити про це Оргкомітет заздалегідь.

Для включення доповіді до програми конференції необхідно до 01 вересня 2008 р. на  адресу  Оргкомітету надіслати доповідь

(згідно зі встановленими вимогами), експертний висновок про можливість опублікування, заявку на участь у конференції.

 

Голова: чл.-кор. НАН України, професор Володимир Зайцев
науковий секретар: к.х.н., доцент Оксана Тананайко

www.achem.univ.kiev.ua/nanu
analysis@univ.kiev.ua
т: 044-2393444